ZBEÜ Mühendislik Fakültesi öğretim üyelerinden Prof. Dr. Şenol Hakan Kutoğlu, Prof. Dr. Rahime Seda Tığlı Aydın, Doç. Dr. Hakan Kaya, Dr. Öğr. Üyesi Gülhan Ustabaş Kaya, Dr. Öğr. Üyesi Sefa Kocabaş, Tıp Fakültesi öğretim üyesi Doç. Dr. İshak Özel Tekin ve TÜRKSAT’ta görevli Seda Kartal’ın birlikte yer aldıkları “Değişik Atmosferik Koşullarda Holografik Mikroskopik Tekniklerle Virüs ve Nanopartiküllerin Saptanması ve Davranışlarının İzlenmesi” başlıklı ZBEÜ BAP projesi kapsamında geliştirilen sistem, Zonguldak Bülent Ecevit Üniversitesi Strateji Geliştirme Daire Başkanlığının başvurusu neticesinde Türk Patent ve Marka Kurumu tarafından değerlendirilerek Patent Tescil Belgesi almaya hak kazandı.
7 değerli bilim insanının özverili çalışmaları neticesinde tescillenen buluşla, Yanal Kesme Sayısal Holografik Mikroskopi Tabanlı Sistem kullanılarak havada serbestçe hareket eden çeşitli virüs, bakteri, polen ve benzeri biyolojik yapılar ile havada asılı duran mikro ve nano yapılar tanımlandı. Ayrıca bu partiküllerin değişik ortam koşullarında sergiledikleri davranışa göre çıkartılan konsantrasyon miktarı ile havada kalma sürelerinin belirlendiği gözlemlendi. Buna ek olarak cihaz ile algılanan her türlü madde eş zamanlı olarak derin öğrenme algoritmaları ile sınıflandırılabiliyor. Kullanılan sistemde komponent sayısı oldukça az olduğundan, PM konsantrasyon miktarını ölçmenin ve bu parçacıkları derin öğrenme kullanarak sınıflandırma ile tanımlamanın ilk defa ucuz bir sistemle yapılabileceği vurgulandı.
Patent Tescil Belgesi almaya hak kazan bu sistem, temassız ölçüm yöntemlerinin önem kazandığı günümüz teknolojisine oldukça uygun olup sağlık, çevre, biyoloji, iş hijyeni, GLP (Good Laboratory Practice) ve GMP (Good Manufacturing Practice) şartlarının denetlenmesinde ve benzeri alanlarda da kullanılabilecek.
Deneysel olarak yüksek başarı sağlayan buluş, bireysel katılım yatırımcılarının desteği ile ticari ürüne dönüşebilecek kompakt bir cihaz haline getirildiği takdirde Sanayi ve Tıp alanında da kayda değer bir yer edinecektir.
